- 深圳世纪天源仪器有限公司
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产品简介
名 称:高加速寿命试验装置(HAST)
用 途:半导体、电子组件、塑封器件/材料、光器件、PCB等稳态湿热(不饱和加压蒸汽)试验,磁性材料失重试验
制造商:株式会社平山制作所(HIRAYAMA)
特 点:1、独特的无结露设计。2、双腔体设计。3、抽屉式滑动托盘设计。4、饱和试验(STD)和不饱和试验(HUM)两种试验模式。5、电子自动门锁紧结构。6、多种排气方式。7、可依据客户需要,选配不同试验夹具
技术特性:
型号 PC-242HSR2
内腔体尺寸 Φ 240 × D410 mm D M × MMΦ × × ×
温度范围 105.0 to 144.4deg C
湿度范围 75 to 100%RH
压力范围 0.019 to 0.208MPa
连续试验时间 200Hours